碳化硅化学限量试验

检测项目

1.主体成分测定：碳化硅含量，游离硅含量，游离碳含量，总硅含量。

2.常见杂质元素分析：铁含量，铝含量，钙含量，镁含量。

3.痕量金属元素测定：钛含量，铬含量，锰含量，镍含量。

4.碱金属与碱土金属控制：钠含量，钾含量，钙含量，镁含量。

5.非金属杂质分析：氧含量，氮含量，硫含量，磷含量。

6.酸溶杂质测定：酸不溶物，酸溶铁，酸溶铝，酸溶钙。

7.灼烧相关指标测定：灼烧减量，灼烧残留，挥发分，不挥发物。

8.水分与残留物分析：水分，干燥失重，可溶性盐，可溶性残留物。

9.有害限量元素测定：铅含量，镉含量，砷含量，汞含量。

10.卤素及相关离子分析：氯离子，氟离子，溴离子，碘离子。

11.氧化物杂质测定：二氧化硅含量，三氧化二铝含量，氧化铁含量，氧化钙含量。

12.表面残留化学物分析：表面可溶残留，清洗残留，酸洗残留，碱洗残留。

检测范围

碳化硅块料、碳化硅颗粒、碳化硅粉体、碳化硅微粉、反应烧结碳化硅、无压烧结碳化硅、重结晶碳化硅、碳化硅陶瓷件、碳化硅密封环、碳化硅喷嘴、碳化硅坩埚、碳化硅换热构件、碳化硅研磨材料、碳化硅耐火制品、碳化硅涂层材料、碳化硅复合材料、碳化硅晶片材料、碳化硅基板材料

检测设备

1.电感耦合等离子体发射光谱仪：用于测定铝、铁、钙、镁等多种元素含量，适合多元素同时分析。

2.电感耦合等离子体质谱仪：用于痕量及超痕量金属元素测定，适合杂质限量分析。

3.原子吸收光谱仪：用于铅、镉、铬、镍等金属元素定量分析，检测灵敏度较高。

4.紫外可见分光光度计：用于部分非金属元素及显色反应项目测定，可进行常规定量分析。

5.离子色谱仪：用于氯离子、氟离子、溴离子等阴离子成分分析，适合可溶性离子检测。

6.碳硫分析仪：用于碳含量、硫含量测定，可测试主体成分及杂质水平。

7.氧氮分析仪：用于氧含量、氮含量测定，适用于高纯碳化硅材料分析。

8.热重分析仪：用于灼烧减量、挥发分及热失重行为测定，可评价受热过程中的质量变化。

9.电子天平：用于样品称量、质量差测定及各类定量分析前处理，满足精密称量需求。

10.马弗炉：用于灼烧、灰化及高温处理过程，可辅助完成残留物和失重项目测定。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.